Гистограмма с двухвершинным распределением

Гистограмма с двухвершинным распределением  (с двумя пиками) характерна для выборки, объединяющей результаты двух процессов или условий работы. Например, если анализируются результаты измерений размеров деталей после обработки, такая гистограмма будет иметь место, если в одну выборку объединены измерения деталей при разных настройках инструмента или при использовании разных инструментов либо станков. Использование различных схем стратификации для выделения различных процессов или условий — один из методов дальнейшего анализа таких данных.